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檢測技術(shù)的發(fā)展歷程

時間:2021-07-02 作者:普天同創(chuàng) 閱讀:3276

        現(xiàn)代檢測的定義是:在不損壞試件的前提下,以物理或化學(xué)方法為手段,借助技術(shù)和設(shè)備器材,對試件的及表面的結(jié)構(gòu),性質(zhì),狀態(tài)進行檢查和測試的方法。

        主要的檢測方法有五種:超聲波檢測UT(Ultrasonic Testing)、射線檢測RT(RadiographicTesting)、磁粉檢測MT(Magnetic Particle Testing)、滲透檢測PT(Penetrant Testing)和目視檢查VT(Visual Testing)

        檢測經(jīng)歷了三個發(fā)展階段,即探傷(Nondestructive inspectionNDI)、檢測(Nondestructive testing,NDT)和評價(Nondestructive evaluation,NDE)。目前一般統(tǒng)稱為檢測(NDT),而不是特指上述的第二階段。在這三個階段中,各階段之間也沒有時間分界點,它們之間存在相互繼承和發(fā)展,各自的主要特點如下。

1.探傷(NDI)

        主要應(yīng)用于20世紀五六十年代,作為檢測的初級階段,其特點是技術(shù)和任務(wù)都較為簡單。在技術(shù)手段上可選擇的并不豐富,主要采用超聲、射線等技術(shù);在任務(wù)上主要是檢測試件是否存在缺陷或者異常,其基本任務(wù)是在不破壞產(chǎn)品的情況下發(fā)現(xiàn)零件或者構(gòu)件中的缺陷,工程需要,其檢測結(jié)論主要分為有缺陷和無缺陷兩類。

2.檢測(NDT)

         隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,特別是生產(chǎn)對檢測技術(shù)的需求不斷提升,僅僅檢測出是否有缺陷顯然不能人們的實際需求。在檢測(NDT)這一發(fā)展階段,不僅僅是探測出試件是否含有缺陷,還包括探測試件的一些其他信息,例如缺陷的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、位置等,并試圖通過檢測掌握更多的信息、對于國際上發(fā)達的工業(yè)國家,這一階段大致開始于20世紀70年代末或者80年代初。

3.檢測評價(NDE)

        盡管第二階段的檢測(NDT)技術(shù)已經(jīng)能夠適合大部分工業(yè)生產(chǎn)的需求,但是隨著對材料、構(gòu)件等質(zhì)量要求不斷增加,是針對在役設(shè)備的安全性和經(jīng)濟性的需求越加重要,檢測進入了第三階段,即評價階段(NDE)。

        這一階段的一個標志性事件是1996年在新德里召開的第14界世界檢測大會(Word conference on NDTWCNDT),在該次大會上提出了將檢測(NDT)變?yōu)樵u價(NDE)這一重要觀點,并被檢測界所接受。在這一階段,人們不僅要對缺陷的有無、屬性、位置、大小等信息進行掌握,還要進一步評估分析缺陷的這些特性對被檢構(gòu)件的綜合性能指標(例如壽命、強度、穩(wěn)定性等)的影響程度,給出關(guān)于綜合性指標的某些結(jié)論。目前工業(yè)發(fā)達國家已經(jīng)處于這一發(fā)展階段。其他國家有些尚以第二階段的技術(shù)為主,有些則已經(jīng)處在第二階段到第三階段的發(fā)展過渡中。

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