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其它長度計量器具

平面平晶
產品簡介：平面平晶，是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
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平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。 
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
平面平晶的技術參數(shù)（備注：特殊規(guī)格可根據(jù)客戶要求定做）


平面直徑d(mm) 基本參數(shù)
1級
d范圍內 2/3d范圍內
30
45
60 		0.03 ----
80
100
150 		0.05 0.03
200
250
300 		0.08
0.1
0.15 		0.05
0.05
0.09


















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