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技術(shù)發(fā)展迅速 精密測(cè)量發(fā)展方向透視

時(shí)間:2017-12-22 作者:互聯(lián)網(wǎng)分享 閱讀:4582

1、測(cè)量精度由微米級(jí)向納米級(jí)發(fā)展,測(cè)量分辨力進(jìn)一步提高;

2、由點(diǎn)測(cè)量向面測(cè)量過渡(即由長度的精密測(cè)量擴(kuò)展至形狀的精密測(cè)量),提高整體測(cè)量精度;

3、隨著圖像處理等新技術(shù)的應(yīng)用,遙感技術(shù)在精密測(cè)量工程中將得到推廣和普及;

4、隨著標(biāo)準(zhǔn)化體制的確立和測(cè)量不確定度的數(shù)值化,將有效提高測(cè)量的可靠性。

總之,測(cè)量技術(shù)必須實(shí)現(xiàn)高精度化,同時(shí)也要求實(shí)現(xiàn)高速化和高效率化,因此,非接觸測(cè)量和高效率測(cè)量也必然成為新世紀(jì)精密測(cè)量技術(shù)的重要發(fā)展方向。

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