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引伸計標定儀

GWB-200JA型引伸計標定儀 引伸計檢定
產(chǎn)品簡介：GWB－200JA型引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG 762－2007引伸計檢定規(guī)程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。
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結構特點及讀數(shù)方式：
        1. 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

        2. 精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋副組成。其最大量程25㎜；最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數(shù)為：

L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）

其中： a0 b0 c0為相應位移變化前讀數(shù)

a－內筒毫米刻線讀數(shù)

b－外筒刻線讀數(shù)

c－游標刻線讀數(shù)

使用說明：
        請依據(jù)JJG  762－2007引伸計檢定規(guī)程要求，進行引伸計的檢定：
        1、根據(jù)被檢引伸計的規(guī)格型號及測試的試樣規(guī)格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
        2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。
        3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：
        1）檢定范圍應根據(jù)引伸計需要測試材料的技術參數(shù)決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數(shù)據(jù)，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
        2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，最好檢定10點，即每0.1㎜檢一點。
        3）檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法，不要用游標估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)，因為每一次的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞，估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法最清晰簡單準確，出現(xiàn)誤差的機率最小，即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn)，因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加，這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。
        4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。
主要配置：
1. 組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。
2. 刀片2件。裝置于組合校準桿上：用于COD或JIC夾規(guī)檢定。
3. 橫試片2件。裝置于組合校準桿上：用于橫向引伸計的檢定。
4. 板件2件。裝置于組合校準桿上：用于模擬板材試樣的檢定。
5. φ10×120桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
6. φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
7. φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
8. φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
9. 170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。
10. 聯(lián)接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上，連接分離試樣進行檢定。

維護與保養(yǎng)：
1.上、下支臂拆裝時，應防止定位釘或鋼球的脫落，抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。1、儀器出廠時精密微分測量頭的精度已調校好，使用中不得自行拆卸。
2.應在清潔無塵環(huán)境使用，并注意隨時保持儀器的清潔無塵。
3.注意防止外力損傷及銹蝕的產(chǎn)生。
4.上、下支臂拆裝時，應防止定位釘或鋼球的脫落。
5.定期交有關計量部門復檢。


技術參數(shù)：

1、測量引伸計標距范圍Ｌmax 500㎜
2、測量支座上支臂安裝孔徑  φ10；φ28
3、微分測頭讀數(shù)內筒軸向刻度  0.5㎜/格
4、微分測頭讀數(shù)外筒圓周刻度 0.002㎜/格
5、微分測頭讀數(shù)內筒游標刻度 0.0002㎜/格
6、高精密微分測頭精度指標
標定儀示值誤差：
校準范圍不超過1/3㎜受檢點時：±0.5μm 絕對誤差
校準范圍超過1/3㎜受檢點時：±0.15%   相對誤差


參照標準：
JJF   1096-2002 引伸計標定器校準規(guī)范
ISO   9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定
JJG   762-2007 引伸計檢定規(guī)程

可進行0.5級引伸計的標定 受檢點

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